Nasschemische Prozesse in der Halbleiterfertigung

Inhaltsverzeichnis

Wafer Cleaning, Ätzen und Oberflächenbearbeitung in der Chipproduktion

Einführung

Die Bedeutung nasschemischer Prozesse in der Halbleiterindustrie

Die Halbleiterindustrie gehört zu den technologisch anspruchsvollsten Fertigungsbereichen weltweit.

Moderne Mikrochips bestehen aus extrem fein strukturierten Schichten, deren Funktion bereits durch kleinste Verunreinigungen beeinträchtigt werden kann.

Nasschemische Prozesse sind deshalb ein zentraler Bestandteil der Waferfertigung.

Sie werden eingesetzt für:

  • Reinigung von Wafern
  • Entfernung organischer Rückstände
  • Entfernung metallischer Kontaminationen
  • Oxidentfernung
  • chemisches Ätzen
  • Oberflächenaktivierung
  • Vorbereitung nachfolgender Prozessschritte

Die dafür eingesetzten Anlagen werden als Nassbanken (Wet Benches) bezeichnet.

Warum sind Nassprozesse bei der Waferherstellung entscheidend?

Ein Halbleiterwafer durchläuft während der Fertigung zahlreiche Prozessschritte.

Dabei entstehen unvermeidbare Rückstände:

  • Partikel
  • Metalle
  • organische Verunreinigungen
  • Oxidschichten
  • Fotolackreste

Diese müssen kontrolliert entfernt werden.

Bereits kleinste Defekte können zu:

  • Funktionsfehlern
  • reduzierter Ausbeute (Yield)
  • Qualitätsproblemen

führen.

Prozesskette der Waferfertigung

Eine typische Waferproduktion umfasst zahlreiche Nassprozesse.

Vereinfachter Ablauf:

Siliziumwafer

Reinigung

Oxidentfernung

Beschichtung

Lithografie

Entwicklung

Ätzen

Reinigung

Wiederholung vieler Prozesszyklen

Wafer Cleaning

Reinigung von Siliziumwafern

Wafer Cleaning ist einer der wichtigsten nasschemischen Prozesse in der Halbleiterfertigung.

Ziel ist die Herstellung einer:

  • partikelfreien Oberfläche
  • metallfreien Oberfläche
  • chemisch definierten Oberfläche

Welche Verunreinigungen müssen entfernt werden?

Partikel

Partikel können:

  • Strukturen beschädigen
  • Defekte erzeugen
  • elektrische Fehler verursachen

Entfernung durch:

  • SC1 Reinigung
  • Megasonic Cleaning
  • Ultraschall

Organische Rückstände

Quellen:

  • Fotolack
  • Polymere
  • Prozesschemikalien

Entfernung durch:

  • Lösemittel
  • oxidative Reinigung

Metallische Verunreinigungen

Beispiele:

  • Eisen
  • Kupfer
  • Nickel

Entfernung durch:

  • SC2 Reinigung

RCA Cleaning in der Halbleiterfertigung

Standardisierte Wafer-Reinigung

Das RCA Cleaning ist eines der bekanntesten Reinigungsverfahren für Siliziumwafer.

Es besteht aus:

  1. SC1 Reinigung
  2. Spülen
  3. SC2 Reinigung
  4. Endreinigung

SC1 Reinigung bei Wafern

Entfernung von Partikeln und organischen Rückständen

SC1 verwendet typischerweise:

  • Ammoniumhydroxid
  • Wasserstoffperoxid
  • Reinstwasser

Aufgabe:

  • Partikelablösung
  • organische Entfernung
  • Oberflächenaktivierung

SC2 Reinigung bei Wafern

Entfernung metallischer Verunreinigungen

SC2 verwendet:

  • Salzsäure
  • Wasserstoffperoxid
  • Reinstwasser

Aufgabe:

  • Entfernung von Metallionen
  • Verbesserung der Oberflächenreinheit

HF Dip in der Halbleiterfertigung

Entfernung der natürlichen Oxidschicht

Silizium bildet an Luft automatisch eine dünne Oxidschicht.

Diese kann Folgeprozesse beeinflussen.

HF Dip entfernt:

  • Siliziumoxid
  • native Oxidschichten

Typische Anwendungen:

  • vor Beschichtung
  • vor epitaktischen Prozessen
  • vor Kontaktbildung

Megasonic Cleaning für Wafer

Partikelentfernung bei empfindlichen Strukturen

Megasonic Cleaning nutzt hochfrequente Schallwellen.

Vorteile:

  • Entfernung kleinster Partikel
  • geringe mechanische Belastung
  • geeignet für empfindliche Waferstrukturen

Typische Anwendungen:

  • moderne Halbleitergenerationen
  • MEMS
  • Sensoren

Ultraschallreinigung in der Halbleiterfertigung

Ultraschall nutzt Kavitation zur Unterstützung der Reinigung.

Geeignet für:

  • robuste Komponenten
  • Entwicklungsprozesse
  • spezielle Reinigungsschritte

Bei sehr empfindlichen Wafern wird häufig Megasonic bevorzugt.

Nasschemisches Ätzen von Wafern

Materialabtrag durch chemische Reaktion

Ätzprozesse entfernen gezielt Materialschichten.

Typische Anwendungen:

  • Oxidentfernung
  • Siliziumstrukturierung
  • Schichtentfernung

HF Ätzen von Siliziumstrukturen

HF wird eingesetzt zur Entfernung von:

  • Siliziumoxid
  • Glasstrukturen
  • oxidischen Schichten

KOH Ätzen von Silizium

KOH ermöglicht anisotropes Siliziumätzen.

Anwendungen:

  • MEMS
  • Sensoren
  • Mikromechanik

Lösemittelprozesse in der Halbleiterfertigung

Entfernung organischer Materialien

Lösemittel werden besonders eingesetzt für:

  • Fotolackentfernung
  • Polymerentfernung
  • organische Rückstände

Photoresist Removal

Entfernung von Fotolacken

Fotolacke sind essenziell für die Strukturübertragung.

Nach der Bearbeitung müssen sie entfernt werden.

Verfahren:

  • Lösemittel Strip
  • chemischer Strip
  • Plasma

Typische Nassbank-Prozesse in der Halbleiterindustrie

Eine moderne Halbleiter-Nassbank kann folgende Prozesse integrieren:

  • RCA Cleaning
  • SC1
  • SC2
  • HF Dip
  • Megasonic Cleaning
  • Lösemittelprozesse
  • Spülen
  • Trocknung

Anforderungen an Halbleiter-Nassbanken

Halbleiterprozesse benötigen höchste Prozesskontrolle.

Wichtige Anforderungen:

Reinheit

  • geringe Partikelbelastung
  • geeignete Materialien
  • kontrollierte Medien

Prozessstabilität

Kontrolle von:

  • Temperatur
  • Chemiekonzentration
  • Zeit
  • Durchfluss

Automatisierung

Moderne Systeme ermöglichen:

  • reproduzierbare Prozesse
  • automatische Beladung
  • Prozessüberwachung

PaceTec Kompetenz

PaceTec entwickelt Nassbank-Systeme für anspruchsvolle Halbleiterprozesse.

Unsere Lösungen unterstützen:

  • Wafer Cleaning
  • RCA Prozesse
  • SC1 / SC2 Reinigung
  • HF Dip
  • Megasonic Cleaning
  • Ätzprozesse
  • Lösemittelprozesse

Dabei verbinden wir:

Prozesswissen + Chemieverständnis + Anlagenengineering

für stabile und reproduzierbare Fertigungsprozesse.

 

 

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